[发明专利]一种TO筛选系统

摘要

本申请提供了一种TO筛选系统，包括上位机、PIV测试盒、控制分配盒和TO器件单元，TO器件单元包括总线板和N个PCB板，总线板包括总线、总线板输入输出接口和N个PCB插槽，各个PCB板各自包括一个PCB输入输出接口和M个TO座；上位机分别与PIV测试盒和控制分配盒相连，PIV测试盒与控制分配盒相连，控制分配盒的控制分配盒输入输出接口与所述总线板输入输出接口相连；第iPCB板的PCB输入输出接口与第iPCB插槽接口相连。在本申请中，安装工作简单，缩短了TO测试的总时间，提高了工作效率。并且，上位机、PIV测试盒和控制分配盒与各个TO仅通过一根总线连接，系统易维护。

主权项

一种TO筛选系统，其特征在于，包括：上位机、激光器综合性能参数PIV测试盒、控制分配盒和器件单元，所述器件单元包括总线板和N个PCB板，所述总线板包括总线、总线板输入输出接口和N个PCB插槽，各个PCB板各自包括一个PCB输入输出接口和M个TO座，所述N为大于0的整数，所述M为大于1的整数；所述上位机分别与所述PIV测试盒和所述控制分配盒相连，所述PIV测试盒与所述控制分配盒相连，所述控制分配盒的控制分配盒输入输出接口与所述总线板输入输出接口相连；第iPCB板的PCB输入输出接口与第iPCB插槽相连，所述i＝{1,2,3，...，N}；所述上位机，用于获取用户输入的选址指令，并输出所述选址指令至所述控制分配盒，及输出扫描输出指令至所述PIV测试盒，接收相应的PCB板采集的与所述选址指令相符的待检测TO的状态参数，依据所述状态参数判断与所述选址指令相符的待检测TO是否合格；所述控制分配盒，用于在接收到所述选址指令后，将所述选址指令编译成地址码，将所述地址码发送至各个PCB板，并将所述PIV测试盒在接收到所述扫描输出指令后，输出的驱动信号转发至与所述选址指令相符的待检测TO所属PCB板，转发相应的PCB板采集的与所述选址指令相符的待检测TO的状态参数至所述PIV测试盒；所述PIV测试盒，用于在接收到所述扫描输出指令后，输出驱动信号，并转发与所述选址指令相符的待检测TO的状态参数至所述上位机；所述TO座，用于安装待检测TO；所述PCB板，用于对所述控制分配盒发送的地址码进行解析，得到页面码和页内选址码，在所述页面码与所述PCB板的编号相符时，驱动所述页内选址码对应的TO座所安装的待检测TO工作，并输出与所述驱动信号相符的检测电流至所述页内选址码对应的TO座所安装的待检测TO，及采集所述页内选址码对应的TO座所安装的待检测TO在所述检测电流下的状态参数，并将所述状态参数返回至所述控制分配盒；其中，所述页内选址码对应的TO座所安装的待检测TO为与所述选址指令相符的待检测TO。