[发明专利]一种数字集成芯片测试仪在审
| 申请号： | 201510937482.8 | 申请日： | 2015-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN105353298A | 公开（公告）日： | 2016-02-24 |
| 发明（设计）人： | 杨秀增;李海生;黄灿胜;周思颖;蒙韦清;韦孟娇;陆伟艳 | 申请（专利权）人： | 广西民族师范学院 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 | 代理人： | 罗志伟 |
| 地址： | 532200 广西壮族*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种数字集成芯片测试仪，包括测试模块、控制器单元、处理器单元和总线，其中，所述测试模块、控制器单元、处理器单元分别与所述总线连接，所述测试模块包括数字集成电路测试核心模块和集成电路测试IC座，所述数字集成电路测试核心模块与所述集成电路测试IC座连接。本发明的有益效果是：具有快速高效和成本低廉的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 数字 集成 芯片 测试仪 | ||
【主权项】：
一种数字集成芯片测试仪，其特征在于：包括测试模块、控制器单元、处理器单元和总线，其中，所述测试模块、控制器单元、处理器单元分别与所述总线连接，所述测试模块包括数字集成电路测试核心模块和集成电路测试IC座，所述数字集成电路测试核心模块与所述集成电路测试IC座连接。
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