[发明专利]一种氟化铅晶体中元素含量及分布的测定方法有效
| 申请号： | 201510938409.2 | 申请日： | 2015-12-15 |
| 公开（公告）号： | CN105572215B | 公开（公告）日： | 2018-06-22 |
| 发明（设计）人： | 汪正;张国霞;李青;朱燕 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| 主分类号： | G01N27/64 | 分类号： | G01N27/64;G01N1/28 |
| 代理公司： | 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 | 代理人： | 曹芳玲;郑优丽 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种氟化铅晶体中元素含量及分布的测定方法，所述方法采用氧化铅粉末加混合标准溶液制备而成的压片作为固体标准参考物质，以氧化铅粉末中的206Pb作为内标元素，利用激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法分析氟化铅晶体中元素含量及分布。本发明采用简单快速的标样制备方法，得到性能稳定，均匀性好的固体参考物质，且得到的标准曲线具有较好的线性相关性,从而对高纯氟化铅样品进行定量及分布研究。本发明的方法可直接固体进样分析，无需前处理，无需将固体制备成溶液，也可得到晶体表面元素的分布情况。 | ||
| 搜索关键词： | 氟化铅晶体 氧化铅粉末 制备 电感耦合等离子体质谱法 混合标准溶液 标准曲线 固体标准 固体进样 固体制备 晶体表面 均匀性好 参考 剥蚀 氟化铅 前处理 标样 高纯 内标 压片 激光 分析 研究 | ||
【主权项】：
1.一种氟化铅晶体中元素含量及分布的测定方法，其特征在于，采用氧化铅粉末加混合标准溶液浸泡、干燥、压片制备而成的压片作为固体标准参考物质，以氧化铅粉末中的206Pb作为内标元素，利用激光剥蚀电感耦合等离子体质谱法分析氟化铅晶体中元素含量及分布。
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