[发明专利]一种锗硅光电探测器及其制备方法在审
申请号: | 201510938680.6 | 申请日: | 2015-12-16 |
公开(公告)号: | CN105470318A | 公开(公告)日: | 2016-04-06 |
发明(设计)人: | 刘健;胡双元 | 申请(专利权)人: | 苏州矩阵光电有限公司 |
主分类号: | H01L31/0224 | 分类号: | H01L31/0224;H01L31/105;H01L31/18 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215614 江苏省苏州市张家*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供了一种锗硅光电探测器及制备方法,所述探测器的外延结构包括在P型Si衬底上依次外延生长本征Si缓冲层,P型重掺杂Ge层,i型Ge层,N型重掺杂Ge层,Si帽层;然后在外延层上蒸镀金属银层,做出特定的网格形状;最后,转移一层石墨烯在金属网格上,退火形成石墨烯金属网格复合透明电极。本发明技术方案能够获得较高质量的石墨烯透明电极,同时避免了原有蒸镀厚金属占用较大的光敏面积的缺点,在相同光敏台面面积下,此复合电极显著地提高了锗硅光电探测器的光谱响应度和耦合效率;此外,石墨烯生长的金属衬底可以重复利用,有效地降低了光电探测器的成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 光电 探测器 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种锗硅光电探测器,其特征在于,所述器件结构包括在P型掺杂的Si衬底(1)上依次外延非掺杂的Si缓冲层(2),P型重掺杂Ge层(3),i型Ge层作为吸收层(4),N型重掺杂Ge层(5);所述N型重掺杂Ge层(5)上设置Si帽层(6);刻蚀形成台面所述的P型重掺杂Ge层(3)上设置钝化层(7);所述钝化层上开孔,在通孔内壁设置金属电极作为第一电极(8);所述Si帽层(6)上设置金属银层(9),石墨烯层(10),作为外电路连接的第二金属电极层(11),增透膜层(12)。
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H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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