[发明专利]用于清洗质谱仪中截取锥的装置在审
| 申请号： | 201510947296.2 | 申请日： | 2015-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN105344648A | 公开（公告）日： | 2016-02-24 |
| 发明（设计）人： | 辛娟娟;徐泱;黄红伟 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | B08B3/08 | 分类号： | B08B3/08;B08B13/00;B08B11/02 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 张亚利;吴敏 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种用于清洗质谱仪中截取锥的装置，截取锥包括底座和固定在所述底座的上表面的锥头，所述装置包括：本体；设置在所述本体的表面上的至少一个清洗槽，所述清洗槽用于盛放清洗液，并至少能容纳所述截取锥的锥头，且所述锥头伸入所述清洗槽内时，所述底座的上表面能与本体接触以使所述本体将底座支撑住。利用本发明所提供的用于清洗质谱仪中截取锥的装置可以实现在对截取锥的锥头进行清洗的同时，不让螺纹接口受清洗液的腐蚀，整个截取锥不会报废，延长了截取锥的使用寿命。另外，在清洗过程中，当本体将底座支撑住时，人手即可以释放截取锥，使得清洗操作非常方便。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 清洗 质谱仪 截取 装置 | ||
【主权项】：
一种用于清洗质谱仪中截取锥的装置，所述截取锥包括底座和固定在所述底座的上表面的锥头，其特征在于，所述装置包括：本体；设置在所述本体的表面上的至少一个清洗槽，所述清洗槽用于盛放清洗液，并至少能容纳所述截取锥的锥头，且所述锥头伸入所述清洗槽内时，所述底座的上表面能与本体接触以使所述本体将底座支撑住。
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