[发明专利]分离式探针模块及具备分离式探针模块的电子元件检测设备

摘要

本发明涉及一种分离式探针模块及具备分离式探针模块的电子元件检测设备，该设备主要包括供料装置、分离式探针模块、取放装置及控制装置；而分离式探针模块包括探针、二维移动机构及致动器；其中，控制装置控制取放装置从供料装置将待测电子元件转移至测试位置，并控制致动器以驱动二维移动机构进行水平移动及升降移动，进而带动探针进入测试位置而与待测电子元件电接触并进行检测。据此，通过使探针进行二维移动的方式，让探针仅在检测进行时位于测试位置内，其余时间则移出测试位置以避免影响进料及后续的分类流程。

主权项

一种具备分离式探针模块的电子元件检测设备，包括：供料装置，其包括供料区，该供料装置用于供应至少一个待测电子元件；分离式探针模块，其在测试位置检测该至少一个待测电子元件；该分离式探针模块包括至少一个探针、二维移动机构及致动器，该致动器连接该二维移动机构，该至少一个探针组设于该二维移动机构上；取放装置，其移动该至少一个待测电子元件；以及控制装置，其电连接该供料装置、该分离式探针模块及该取放装置；其特征在于，该控制装置控制该取放装置从该供料区将该至少一个待测电子元件转移至该测试位置，该控制装置控制该致动器以驱动该二维移动机构进行水平移动及升降移动，进而带动该至少一个探针进入该测试位置而与该至少一个待测电子元件电接触并进行检测。