[发明专利]一种场传感器校准系统和方法有效
申请号: | 201510956142.X | 申请日: | 2015-12-17 |
公开(公告)号: | CN105527598B | 公开(公告)日: | 2019-02-15 |
发明(设计)人: | 康宁;马永光;杨金涛;吴红森 | 申请(专利权)人: | 北京无线电计量测试研究所 |
主分类号: | G01R35/00 | 分类号: | G01R35/00;H01Q1/36;G01R29/08 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 黄熊 |
地址: | 100854 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提出一种场传感器校准系统和方法,解决校准区域小、场传感器对场分布影响大的问题。本发明的场传感器校准系统包含单锥体和平面体,构成一单锥体天线。所述单锥体从顶面至底面逐渐变细,侧面的旋转曲线形状为指数曲线。本发明的场传感器校准方法首先设置一单锥体天线,从顶面至底面逐渐变细,使得场传感器校准可使用的空间区域变大;在单锥体天线辐射的范围内定义一立方体校准区域,在该立方体的顶点及各边中点设置参考点,分别计算并比较有、无场传感器的情况下各参考点电场强度,得到场传感器对校准区域内部场分布的影响。本发明单锥体天线阻抗变换方法是指数变换形式,提高了场传感器的校准精度。 | ||
搜索关键词: | 一种 传感器 校准 系统 方法 | ||
【主权项】:
1.一种场传感器校准系统,包含单锥体和平面体,所述单锥体和平面体均为导体,其特征在于,所述单锥体沿轴向旋转对称,包含顶面、底面、侧面,所述单锥体从顶面至底面逐渐变细;所述侧面的旋转曲线形状为指数曲线;所述单锥体的轴向与所述平面体相垂直,构成一单锥体天线,所述单锥体的顶面位于远端,所述单锥体的底面与馈电的同轴电缆的内导体连接,在所述单锥体与所述平面体之间产生时域脉冲辐射场;所述旋转曲线的方程为:y=reCz,且
其中r为单锥体底面半径,C为指数项系数,R为单锥体顶面半径,h为单锥体高度。
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