[发明专利]一种设有陶瓷针盘的测试座有效
| 申请号： | 201510960341.8 | 申请日： | 2015-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN105467168B | 公开（公告）日： | 2018-06-08 |
| 发明（设计）人： | 罗小珊;谢后勇 | 申请（专利权）人： | 深圳市邦乐达科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R1/073 |
| 代理公司： | 深圳市中联专利代理有限公司 44274 | 代理人： | 尹怀勤 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市宝安*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种设有陶瓷针盘的测试座，包括：底座，设于底座上的下针盘，设于下针盘上的上针盘，一个或以上的探针组，每个探针组至少由两根探针组成；组成探针组的每根探针下端设于下针盘的上表面内，每组探针的上端穿过上针盘且每组探针的上端部位于上针盘的上表面之外。陶瓷材料制成的上、下针盘具有硬度高，耐高温，耐磨损，耐腐蚀,绝缘好，质量轻，导热性能好，能对高要求的测试器件进行连接测试。 | ||
| 搜索关键词： | 下针盘 探针 上针盘 探针组 测试座 上表面 针盘 底座 陶瓷 测试器件 导热性能 连接测试 上端部位 陶瓷材料 耐腐蚀 耐高温 耐磨损 上端 绝缘 下端 穿过 | ||
【主权项】：
一种设有陶瓷针盘的测试座，其特征在于，包括：底座，设于底座上的下针盘，设于下针盘上的上针盘，一个或以上的探针组，每个探针组至少由两根探针组成；组成探针组的每根探针下端设于下针盘的上表面内，每组探针的上端穿过上针盘且每组探针的上端部位于上针盘的上表面之外；所述上针盘、下针盘均采用陶瓷材料制成；还包括设于上针盘上的保护盖，所述保护盖内设有椭圆形穿孔，每根探针的上端部位于椭圆形穿孔内；所述探针组为五个，每个探针组由九根探针组成；所述底座上设有第一定位PIN，下针盘内设有与第一定位PIN相结合的下定位孔；下针盘上表面上设有第二定位PIN，上针盘内设有与第二定位PIN相结合的上定位孔。
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