[发明专利]核聚变装置包层表面附近冷却通道堵塞的无损检测方法

摘要

发明属于核聚变反应堆工程技术领域，具体公开核聚变装置包层表面附近冷却通道堵塞的无损检测方法，把待检测的包层放入真空热处理炉，并在包层外冷却通道附近设置若干个测量位置，测量其温度变化值；与数值仿真结果进行比较，得出某个冷却管道堵塞的结论；从而满足核聚变装置包层制造对冷却通道是否堵塞进行无损检测的要求。

主权项

1.一种核聚变装置包层表面附近冷却通道堵塞的无损检测方法，其特征在于：它包括下列步骤：步骤1：把待检测的包层放入真空热处理炉；步骤2：在真空热处理炉内设置热电偶，监控环境温度值；分别在包层内冷却通道外表面的各测量位置连接热电偶，监测包层最靠近冷却通道外表面的温度值；步骤3：对真空热处理炉进行抽真空；步骤4：在真空热处理炉里，通过辐射加热对包层外表面加热，加热功率逐渐提高，同时在冷却通道内通去离子水对包层进行冷却；步骤5：环境温度值达到设定值时，停止提高加热功率；待包层最靠近冷却通道外表面的温度值变化达到稳定时，记录各测量位置的温度测量值；步骤6：建立基于冷却通道无堵塞的包层数值计算模型，采用检测的输入条件进行稳态辐射传热数值模拟计算；计算环境温度值达到设定值时，各测量位置的温度计算值；步骤7：将步骤5得到的测量值和步骤6得到的计算值进行比较；如果某个测量位置的测量值和计算值偏差大于20％，则得出该位置可能出现冷却通道堵塞的结论。