[发明专利]一种基于双模冗余的抗单粒子多节点翻转加固锁存器在审

专利信息
申请号: 201510969571.0 申请日: 2015-12-21
公开(公告)号: CN105577161A 公开(公告)日: 2016-05-11
发明(设计)人: 黄正峰;付俊超;梁华国;欧阳一鸣;易茂祥;闫爱斌;许晓琳;方祥圣 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: H03K19/003 分类号: H03K19/003
代理公司: 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 代理人: 余成俊
地址: 230009 安*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明公开了一种基于双模冗余的抗单粒子多节点翻转加固锁存器,涉及抗辐射集成电路设计领域,包括一个输入模块(1),两个结构相同的存储单元MC1、MC2,一个4管Muller C单元(2)。本发明对单粒子单节点翻转能够实现完全自恢复,并且对单粒子多节点翻转能够完全容忍,从而提高了系统的可靠性。
搜索关键词: 一种 基于 双模 冗余 粒子 节点 翻转 加固 锁存器
【主权项】:
一种基于双模冗余的抗单粒子多节点翻转加固锁存器,其特征在于:包括一个输入模块(1),两个存储单元MC1、MC2,一个4管Muller C单元(2);所述输入模块(1)由4个PMOS晶体管和1个反相器构成;所述2个存储单元MC1和MC2的结构相同,其中每个存储单元由6个PMOS晶体管和4个NMOS晶体管构成;Muller C单元(2)由两个PMOS晶体管和两个NMOS晶体管构成;输入模块(1)的输出端与存储单元MC1、MC2连接,存储单元MC1、MC2分别与Muller C单元(2)的两个输入端连接。
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