[发明专利]一种电池片的测试方法及装置在审
| 申请号： | 201510969748.7 | 申请日： | 2015-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN105632957A | 公开（公告）日： | 2016-06-01 |
| 发明（设计）人： | 郭立;樊坤;龙辉;吕文利 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第四十八研究所 |
| 主分类号： | H01L21/66 | 分类号： | H01L21/66;H01L21/68 |
| 代理公司： | 湖南兆弘专利事务所 43008 | 代理人： | 周长清;廖元宝 |
| 地址： | 410111 湖南*** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电池片测试方法，在位于所述测试工位的前方设置有夹持定位工位，当所述电池片在测试工位进行性能测试时，对所述夹持定位工位上的待测试电池片进行夹持定位；当测试工位上的电池片测试完成后，所述夹持定位工位上的待测试电池片传输至测试工位直接进行性能测试。本发明还公开了一种电池片测试装置，包括传输轨道，所述传输轨道上设置有夹持定位组件和测试组件，在所述传输轨道的传输方向上，依次设置有夹持定位工位和测试工位，所述夹持定位组件安装在所述夹持定位工位上，所述测试组件安装于所述测试工位上。本发明的装置以及方法均具有测试效率高、定位精准等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电池 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种电池片测试方法，其特征在于，在位于所述测试工位的前方设置有夹持定位工位，当所述电池片（2）在测试工位进行性能测试时，对所述夹持定位工位上的待测试电池片（2）进行夹持定位；当测试工位上的电池片（2）测试完成后，所述夹持定位工位上的待测试电池片（2）传输至测试工位直接进行性能测试。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理；集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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