[发明专利]芯片电子部件检查分选装置有效
| 申请号： | 201510982119.8 | 申请日： | 2015-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN105738746B | 公开（公告）日： | 2020-05-12 |
| 发明（设计）人： | 藤田清久 | 申请（专利权）人： | 慧萌高新科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/01 | 分类号： | G01R31/01 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 秦琳;陈岚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及芯片电子部件检查分选装置。提供一种代替在以往的芯片电子部件检查分选装置中使用的检查用电极端子和检查器的连接切换系统的新的连接切换系统。作为芯片电子部件检查分选装置的由固定电极端子和可动电极端子构成的检查用电极端子组与检查器的连接切换系统的继电器开关单元，使用收容于框体的MOS FET，将收容有该MOS FET的框体邻接配置于检查用的固定电极端子和可动电极端子的每一个，使MOS FET经由连接器连接于固定电极端子和可动电极端子。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 电子 部件 检查 分选 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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