[发明专利]一种斜入射光反射差法探测样品三维结构的方法在审
| 申请号： | 201510982144.6 | 申请日： | 2015-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN105571515A | 公开（公告）日： | 2016-05-11 |
| 发明（设计）人： | 赵昆;王金;詹洪磊 | 申请（专利权）人： | 中国石油大学(北京) |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102249*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种斜入射光反射差法探测样品三维结构的方法，突破了传统斜入射光反射差方法只能探测物体表面二维信息的局限性，可以获得岩心样品的三维信息，并且可以通过调节三维位移平台的竖向位移步进来调节设备竖向空间分辨率，结合斜入射光反射差方法在二维上的高分辨率，可以得到高分辨率的三维测量结果，使其在油气领域上得到更为广泛的应用。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 入射 反射 探测 样品 三维 结构 方法 | ||
【主权项】：
一种斜入射光反射差法探测样品三维结构的方法，其特征在于，包括以下步骤：1)岩心样品制备：将岩心样品进行切片，得到多个岩心薄片；2)岩心样品处理：用砂纸或磨轮将岩心薄片两个端面磨平，并且厚度相同，将岩心薄片其中一个磨平的端面向下，固定在斜入射光反射差装置的样品台上，另一个磨平的端面作为探测光的入射面；3)探测：将斜入射光反射差装置启动，按照常规斜入射光反射差法进行探测，用光电二极管做探测器，用数据采集和处理系统进行数据采集和处理，按照要求，用斜入射光反射差法对岩心薄片样品进行扫描探测；4)对步骤1得到的岩心薄片按照顺序依次进行步骤2‑3。
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