[发明专利]过热检测电路及半导体装置有效
| 申请号： | 201510982992.7 | 申请日： | 2015-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN105738002B | 公开（公告）日： | 2020-03-03 |
| 发明（设计）人： | 杉浦正一;泽井英幸 | 申请（专利权）人： | 艾普凌科有限公司 |
| 主分类号： | G01K7/01 | 分类号： | G01K7/01 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 何欣亭;姜甜 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明题为过热检测电路及半导体装置。本发明提供不会因瞬间的电源电压变动等的干扰噪声而进行意外的误输出而在过热状态下能够迅速输出过热状态检测信号的过热检测电路。过热检测电路采用这样的结构，即，具备：感温部；比较部；以及在既定延迟时间后将过热状态检测信号向输出部输出的干扰噪声除去部，延迟时间与温度成比例地缩短。 | ||
| 搜索关键词： | 过热 检测 电路 半导体 装置 | ||
【主权项】：
一种过热检测电路，具备感温部和比较部，其特征在于，所述过热检测电路具备将过热状态检测信号在既定延迟时间后向输出部输出的干扰噪声除去部，所述延迟时间与温度成比例地缩短。
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