[发明专利]物体特征信息的检测系统及其检测方法有效
申请号: | 201510992539.4 | 申请日: | 2015-12-27 |
公开(公告)号: | CN106918314B | 公开(公告)日: | 2019-08-13 |
发明(设计)人: | 吴书逸;黄嘉民 | 申请(专利权)人: | 神讯电脑(昆山)有限公司;神基科技股份有限公司 |
主分类号: | G01B15/04 | 分类号: | G01B15/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215300 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明揭示一种物体特征信息的检测系统,用以量测检测体,检测系统包含:发射天线、接收天线以及处理模块。发射天线发出输出波束至检测体,以接收对应检测体的反射波束。接收天线接收输出波束。处理模块连接发射天线与接收天线,处理模块依据接收天线接收的输出波束以决定出信道容量、于时域上依据反射波束以统计计算出回馈系数、对应信道容量产生检测体的材质信息、对应回馈系数描绘外观轮廓、经由判断程序判断外观轮廓的特征信息。借此方便且准确得知检测体的材质信息以及特征信息,以提升检测的效率。 | ||
搜索关键词: | 波束 检测体 接收天线 处理模块 发射天线 检测系统 材质信息 特征信息 外观轮廓 物体特征 信道容量 回馈 输出 反射 判断程序 统计计算 检测 量测 时域 描绘 | ||
【主权项】:
1.一种物体特征信息的检测方法,其特征在于,包含:以一发射天线发出一输出波束至一检测体;以一接收天线接收该输出波束,以决定出一信道容量;以该发射天线接收对应该检测体的一反射波束;根据该反射波束于一时域上统计出一回馈系数;对应该信道容量产生该检测体的一材质信息;描绘对应该回馈系数的一外观轮廓;及以一判断程序依据该外观轮廓计算出一特征信息。
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