[发明专利]平板玻璃表面的异物检测装置在审

专利信息
申请号: 201510994157.5 申请日: 2010-03-25
公开(公告)号: CN105572149A 公开(公告)日: 2016-05-11
发明(设计)人: 金贤祐;朴晋弘;金台皓;李昌夏 申请(专利权)人: 康宁精密素材株式会社
主分类号: G01N21/956 分类号: G01N21/956;G01N21/01
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 杨贝贝;臧建明
地址: 韩国忠清南道*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要: 发明涉及平板玻璃表面的异物检测装置,包括:A面激光束照射装置,从平板玻璃的A面的上部朝向A面,以A面的法线向量为基准且以第一角度照射已向S方向偏光的第1波长的激光束;A面摄像装置,对将激光束照射至平板玻璃的A面上的部位进行拍摄,该激光束是从A面激光束照射装置而照射;B面激光束照射装置,从平板玻璃的A面的上部,以A面的法线向量为基准且以比第一角度更小的第二角度而朝向所述A面照射第2波长的激光束;B面摄像装置,对将激光束照射至平板玻璃的B面上的部位进行拍摄,该激光束是从B面激光束照射装置而照射;以及检测信号处理部。本发明可对存在于平板玻璃基板上的异物附着于A面与B面中的哪一面进行准确检测。
搜索关键词: 平板玻璃 表面 异物 检测 装置
【主权项】:
一种平板玻璃表面的异物检测装置,对存在于透明的平板玻璃的A面以及B面上的异物进行检测,并且检测所述异物是否存在于所述A面以及所述B面,其中所述平板玻璃被移送以及因附着的所述异物而散射激光束,所述异物检测装置的特征在于包括:A面激光束照射装置,以A面的法线向量为基准且以第一角度照射具有第1波长的S偏光的激光束至所述平板玻璃的所述A面上的区域S;A面摄像装置,对所述区域S进行拍摄;B面激光束照射装置,以所述平板玻璃的所述A面的法线向量为基准且以比所述第一角度更小的第二角度朝向所述A面上的所述区域S而照射第2波长的激光束,被照射在所述区域S上的所述激光束的大部分在所述平板玻璃的厚度方向上透过,所述第2波长不同于所述第1波长;B面摄像装置,对将激光束照射至所述平板玻璃的B面上的所述区域S部位进行拍摄,所述激光束是从所述B面激光束照射装置透过至所述平板玻璃的B面;以及检测信号处理部,对从所述A面摄像装置及所述B面摄像装置所输入的影像图像进行分析,利用所述异物的清晰度而对附着所述异物的面进行判别,其中所述异物的清晰度基于所述A面摄像装置及所述B面摄像装置所拍摄已检测的所述异物的影像的分辨率,其中,所述A面激光束照射装置以及所述B面激光束照射装置皆设置于所述A面的上方,所述A面摄像装置以及所述B面摄像装置接收散射的激光束,所述散射的激光束是被附着在所述A面与所述B面的异物所散射,其中,所述A面激光束照射装置位于第一侧并从所述第一侧照射,其中第一侧与所述平板玻璃的移送方向垂直,所述B面激光束照射装置位于第二侧并从所述第二侧照射,以所述A面的法线向量为基准,所述第二侧为所述第一侧的相对侧,其中,所述A面摄像装置以及所述B面摄像装置皆垂直设置于所述区域S的上方,所述A面摄像装置设置在:来自所述A面激光束照射装置的激光束的反射光的光路之外,所述B面摄像装置设置在:来自所述B面激光束照射装置的激光束的反射光的光路之外。
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