[发明专利]一种光模块性能参数调试方法及系统有效
| 申请号： | 201510996212.4 | 申请日： | 2015-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN105653416B | 公开（公告）日： | 2018-01-02 |
| 发明（设计）人： | 代辉;曾海峰;陈小鹏 | 申请（专利权）人： | 索尔思光电（成都）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 四川力久律师事务所51221 | 代理人： | 王芸 |
| 地址： | 611731 四川省成都市高新区西*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光模块性能参数调试方法及系统，方法包括在光模块进行至少一个性能参数的调试时，根据性能参数的类型对同一物料号的多个光模块的同一类型的性能参数对应的相同寄存器的设定值进行分组；当每一组内的所述设定值的数量达到预定阈值时，将该组内的所有设定值统计计算出一个初步设定值；其中每组内的所有设定值满足正态分布规律；当下一个光模块进行对应的性能参数调试时，直接将计算出来的所述初步设定值写入到该光模块内的对应寄存器中，之后通过仪器读取该光模块工作时对应的性能参数，如果仪器读取的性能参数的值满足光模块设计要求的数值或数值范围，则完成该下一光模块的调试。本发明节约了调试时间，提高光模块生产效率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 模块 性能参数 调试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种光模块性能参数调试方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、在光模块进行至少一个性能参数的调试时，根据性能参数的类型对同一物料号的多个光模块的同一类型的性能参数对应的相同寄存器的设定值进行分组；S2、当每一组内的所述设定值的数量达到预定阈值时，将该组内的所有设定值统计计算出一个初步设定值；其中每组内的所有设定值满足正态分布规律；S3、当下一个光模块进行对应的性能参数调试时，直接将计算出来的所述初步设定值写入到该光模块内的对应寄存器中，之后通过仪器读取该光模块工作时对应的性能参数，如果仪器读取的性能参数的值满足光模块设计要求的数值或数值范围，则完成该下一光模块的调试。
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