[发明专利]一种快速筛检金属件尺寸缺陷的方法及装置在审
| 申请号： | 201510999693.4 | 申请日： | 2015-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN105423888A | 公开（公告）日： | 2016-03-23 |
| 发明（设计）人： | 沈超;吴宝根;王勇;项军 | 申请（专利权）人： | 上海五腾金属制品有限公司 |
| 主分类号： | G01B7/02 | 分类号： | G01B7/02;G01B7/34 |
| 代理公司： | 上海海颂知识产权代理事务所(普通合伙) 31258 | 代理人： | 何葆芳 |
| 地址： | 201613 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种快速筛检金属件尺寸缺陷的方法及装置，所述方法是利用金属件的导电性，通过金属件与检测金属浮动触头、指示灯、电源及检测平台之间能否构成电路回路使指示灯点亮进行直观判断是否存在尺寸缺陷，所述尺寸缺陷包括平面度缺陷和槽/孔高度尺寸缺陷。所述装置包括底座、导电金属平台、平面度检测金属浮动触头、高度检测金属浮动触头、单色指示灯、双色指示灯、弹簧、导电金属片、限位金属触头和电源。使用本发明所述方法和装置，只需将待检金属件放置在检测区，通过观察指示灯颜色的变化，即可直观判断待检金属件的平面度、高度尺寸是否存在缺陷，可实现对大批量金属件的尺寸缺陷进行快速筛检。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 快速 金属件 尺寸 缺陷 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种快速筛检金属件尺寸缺陷的方法，其特征在于：是利用金属件的导电性，通过金属件与检测金属浮动触头、指示灯、电源及检测平台之间能否构成电路回路使指示灯点亮进行直观判断是否存在尺寸缺陷，所述尺寸缺陷包括平面度缺陷和槽/孔高度尺寸缺陷。
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