[发明专利]一种提高栅网离子阱性能的方法在审

专利信息
申请号: 201511008026.1 申请日: 2015-12-30
公开(公告)号: CN105632867A 公开(公告)日: 2016-06-01
发明(设计)人: 党乾坤;黄彦东;丁航宇;丁传凡;周振;黄正旭;高伟;粘慧青 申请(专利权)人: 复旦大学;广州禾信分析仪器有限公司
主分类号: H01J49/06 分类号: H01J49/06;H01J49/42
代理公司: 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人: 陆飞;盛志范
地址: 200433 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明属于质量分析仪器的技术领域,具体为一种提高栅网离子阱性能的方法。本发明所述的栅网离子阱包括至少有一电极装载有栅网的三维离子阱或线性离子阱;装载有栅网的电极中导电栅网与电极相互电绝缘,从而可以在栅网和电极上分别施加射频电压;本发明通过调节栅网和电极上所施加电压的比值,改变离子阱的电场分布,从而获得良好的质谱分析性能。本发明同时保持了栅网电极的离子弹出效率高和加工简单优点。本发明可用于离子存储,可用于质量分析,也可用于串级质谱分析。
搜索关键词: 一种 提高 离子 性能 方法
【主权项】:
一种提高栅网离子阱性能的方法,其特征在于,是在装载有栅网的电极的栅网部分和电极部分分别施加射频电压,通过调节两者的电压幅值大小比例,来改善离子阱中的电场分布,进而提高质谱性能。
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