[发明专利]一种提高栅网离子阱性能的方法在审
申请号: | 201511008026.1 | 申请日: | 2015-12-30 |
公开(公告)号: | CN105632867A | 公开(公告)日: | 2016-06-01 |
发明(设计)人: | 党乾坤;黄彦东;丁航宇;丁传凡;周振;黄正旭;高伟;粘慧青 | 申请(专利权)人: | 复旦大学;广州禾信分析仪器有限公司 |
主分类号: | H01J49/06 | 分类号: | H01J49/06;H01J49/42 |
代理公司: | 上海正旦专利代理有限公司 31200 | 代理人: | 陆飞;盛志范 |
地址: | 200433 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明属于质量分析仪器的技术领域,具体为一种提高栅网离子阱性能的方法。本发明所述的栅网离子阱包括至少有一电极装载有栅网的三维离子阱或线性离子阱;装载有栅网的电极中导电栅网与电极相互电绝缘,从而可以在栅网和电极上分别施加射频电压;本发明通过调节栅网和电极上所施加电压的比值,改变离子阱的电场分布,从而获得良好的质谱分析性能。本发明同时保持了栅网电极的离子弹出效率高和加工简单优点。本发明可用于离子存储,可用于质量分析,也可用于串级质谱分析。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 离子 性能 方法 | ||
【主权项】:
一种提高栅网离子阱性能的方法,其特征在于,是在装载有栅网的电极的栅网部分和电极部分分别施加射频电压,通过调节两者的电压幅值大小比例,来改善离子阱中的电场分布,进而提高质谱性能。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于复旦大学;广州禾信分析仪器有限公司,未经复旦大学;广州禾信分析仪器有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201511008026.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。