[发明专利]一种用于芯片随机验证的分批随机机制在审
| 申请号： | 201511010452.9 | 申请日： | 2015-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN105631134A | 公开（公告）日： | 2016-06-01 |
| 发明（设计）人： | 李拓;周恒钊;符云越 | 申请（专利权）人： | 山东海量信息技术研究院 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人： | 张靖 |
| 地址： | 250101 山东省济南*** | 国省代码： | 山东;37 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于芯片随机验证的分批随机机制，将单次随机验证分成若干批验证串行执行，每批验证包含若干数目的激励，并在不同批次的验证之间提供对目前随机验证的效率评估和控制机制，使得随机约束和对应的随机激励规模可以根据验证效率的变化而获得修改。本发明解决了随机验证中需要对特定随机约束分别确定合适的激励数目的问题，既不会出现激励数目太多而造成的资源大量浪费，也不会出现因为激励数目太小而造成的验证不充分。对于加快验证收敛，控制芯片研发周期有着重大的意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 芯片 随机 验证 分批 机制 | ||
【主权项】：
一种用于芯片随机验证的分批随机机制，其特征在于：将单次随机验证分成若干批验证串行执行，每批验证包含若干数目的激励，并在不同批次的验证之间提供对目前随机验证的效率评估和控制机制，使得随机约束和对应的随机激励规模可以根据验证效率的变化而获得修改。
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