[发明专利]流水线ADC的第一级电容校准方法有效
申请号: | 201511019023.8 | 申请日: | 2015-12-29 |
公开(公告)号: | CN106936432B | 公开(公告)日: | 2021-01-26 |
发明(设计)人: | 万磊;李丹;张辉;张辉;王海军;丁学欣 | 申请(专利权)人: | 上海贝岭股份有限公司 |
主分类号: | H03M1/10 | 分类号: | H03M1/10 |
代理公司: | 北京金信知识产权代理有限公司 11225 | 代理人: | 刘锋;冯丽 |
地址: | 200233 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种流水线ADC的第一级电容校准方法,具备以下步骤:首先对INL曲线划分为17个区间,分别对17个区间进行线性拟合,将根据17个线段的拟合直线的斜率和截距求得的斜率和截距后,重新拟合直线,从而计算INL跳变值,并根据INL跳变值对流水线ADC的输出进行补偿。本发明的基于积分非线性曲线的流水线ADC的第一级电容失配校准方法,能够在不增加芯片面积和电容复杂度的基础上,同时能够提高芯片SFDR和SNR等指标。 | ||
搜索关键词: | 流水线 adc 一级 电容 校准 方法 | ||
【主权项】:
一种流水线ADC的第一级电容校准方法,其特征在于,包括以下步骤:S10,检测所述流水线ADC的INL曲线;S20,确定所述INL曲线上的17个区间;S30,对该17个区间内的INL曲线分别进行线性拟合,并分别计算17个线段的斜率k1,k2,……,k17,再计算17个斜率除最大值和最小值外其他15个斜率值的平均值S40,根据S30中斜率的平均值对所述17个区间进行重新搜索,重新求得每个拟合直线的截距值b;S50,根据斜率的平均值以及截距值b,对所述17个区间重新进行线性拟合,计算每一段线段的INL跳变值;S60,根据S50中的INL跳变值,对ADC输出结构加上所述INL跳变值,从而补齐所述ADC传输曲线的跳变位置;S70,检测补齐后的INL曲线的跳变值值是否大于1LSB,若判断为是则重复执行S20。
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