[发明专利]永磁体磁通温度系数测量装置及方法在审
| 申请号： | 201511028703.6 | 申请日： | 2015-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN106932740A | 公开（公告）日： | 2017-07-07 |
| 发明（设计）人： | 金国顺;杨小军;饶晓雷;王进东 | 申请（专利权）人： | 北京中科三环高技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12;G01R33/07;G01R33/00 |
| 代理公司： | 北京航忱知识产权代理事务所(普通合伙)11377 | 代理人： | 陈立航 |
| 地址： | 100190 北京市海淀区中*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种永磁体磁通温度系数测量装置及方法，使得测量不确定度U(k＝2)达到0.005％/℃以下。所述装置包括加热箱体(1)，用于对测试样品(3)进行加热；以及磁通测量线圈(2)，位于所述加热箱体的内部，在所述加热箱体与所述磁通测量线圈之间不具有磁屏蔽。 | ||
| 搜索关键词： | 永磁体 温度 系数 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种永磁体磁通温度系数测量装置，包括：加热箱体(1)，用于对测试样品(3)进行加热；磁通测量线圈(2)，位于所述加热箱体的内部，用于测量永磁体磁通；温度传感器(5)；以及测温控温系统(7)，所述磁通测量线圈为耐高温亥姆霍兹线圈。
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