[发明专利]熔断器工作参数的修订方法及装置有效
申请号: | 201511031643.3 | 申请日: | 2015-12-31 |
公开(公告)号: | CN105591368B | 公开(公告)日: | 2018-03-06 |
发明(设计)人: | 黄晓波;张国驹;姜鑫 | 申请(专利权)人: | 北京天诚同创电气有限公司 |
主分类号: | H02H7/20 | 分类号: | H02H7/20 |
代理公司: | 北京天健君律专利代理事务所(普通合伙)11461 | 代理人: | 罗延红,杨艳云 |
地址: | 100176 北京市大*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种熔断器工作参数的修订方法及装置,该方法包括短路电流值取得步骤,得到不同电压切入角下的短路电流值;二极管损坏时间‑短路电流曲线取得步骤,得到不同温度下的损坏时间‑短路电流曲线;熔断器熔断时间‑短路电流曲线取得步骤,得到熔断时间‑短路电流曲线;实验步骤,进行熔断器短路保护实验,通过改变电压切入角来实现不同的短路电流值,并检测不同的短路电流值下且不同温度下二极管的损坏时间和不同的短路电流值下熔断器的熔断时间;以及修正步骤,根据实验的数据修正二极管在不同温度下的损坏时间‑短路电流曲线以及熔断器的熔断时间‑短路电流曲线。由此可以实现熔断器的准确选型,也可以在一定程度上降低熔断器的成本。 | ||
搜索关键词: | 熔断器 工作 参数 修订 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种熔断器工作参数的修订方法,所述熔断器用于保护二极管,其特征在于,包括:短路电流值取得步骤,得到不同电压切入角下的不同短路电流值;二极管损坏时间‑短路电流曲线取得步骤,得到二极管在不同温度下的损坏时间‑短路电流曲线;熔断器熔断时间‑短路电流曲线取得步骤,得到熔断器的熔断时间‑短路电流曲线;实验步骤,进行熔断器短路保护的实验,通过改变电压切入角来实现所述短路电流值取得步骤中得到的不同的短路电流值,并检测二极管在不同温度下的不同短路电流值时的损坏时间和不同短路电流值时熔断器的熔断时间;以及修正步骤,根据所述实验步骤得到的所述短路电流值、所述损坏时间和所述熔断时间修正所述二极管损坏时间‑短路电流曲线取得步骤中得到的所述二极管在不同温度下的损坏时间‑短路电流曲线以及所述熔断器熔断时间‑短路电流曲线取得步骤中得到的所述熔断器的熔断时间‑短路电流曲线。
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