[发明专利]一种异质外延生长氮化镓(GaN)的方法在审

专利信息
申请号: 201511032117.9 申请日: 2015-12-31
公开(公告)号: CN105568386A 公开(公告)日: 2016-05-11
发明(设计)人: 王嘉;谢亚宏;胡晓东;秦宇航 申请(专利权)人: 上海澜烨材料技术有限公司
主分类号: C30B29/40 分类号: C30B29/40;C30B25/12;C30B25/18;H01L21/02
代理公司: 上海科律专利代理事务所(特殊普通合伙) 31290 代理人: 叶凤
地址: 201702 上海市青浦区盈港*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明属于半导体光电子领域,涉及半导体薄膜材料的外延生长和氢化物气相沉积(HVPE)技术领域,为一种异质外延生长氮化镓(GaN)的方法。该方法不仅操作简便,成本低廉,还能够显著降低外延膜因热应力产生的翘曲度,以获得接近零翘曲的GaN外延层。
搜索关键词: 一种 外延 生长 氮化 gan 方法
【主权项】:
一种异质外延生长氮化镓(GaN)的方法,其特征在于,在双面抛光的衬底两面利用氢化物气相外延(HVPE)系统同时生长氮化镓外延膜。
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