[实用新型]一种红外杂光系数测量仪有效

专利信息
申请号: 201520061261.4 申请日: 2015-01-29
公开(公告)号: CN204373889U 公开(公告)日: 2015-06-03
发明(设计)人: 张宪亮;刘若凡;苏红雨;刘夏茹;曾道全 申请(专利权)人: 中测测试科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 四川力久律师事务所 51221 代理人: 王芸;林辉轮
地址: 610021*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 实用新型涉及一种红外杂光系数测量仪,包括激光光源和被测镜头,沿所述激光光源的光路依次设置有斩波器、滤波器,所述被测镜头的前端设置有电校准辐射计,所述被测镜头的后端设置有辐射照度计,所述辐射照度计的输出端连接锁相放大器的输入端,所述锁相放大器的输出端连接计算机的信号输入端,所述电校准辐射计的输出端连接计算机的另一信号输入端,辐射照度高、辐射照度均匀度好,稳定准直的入射辐照度场,排除了非制冷情况下环境杂散辐射带来的影响,可以绝对测量入射辐照度,像面辐照度,进而计算出杂光指数PST。
搜索关键词: 一种 红外 系数 测量仪
【主权项】:
一种红外杂光系数测量仪,包括激光光源和被测镜头,其特征在于:沿所述激光光源的光路依次设置有斩波器、滤波器,所述被测镜头的前端设置有电校准辐射计,所述被测镜头的后端设置有辐射照度计,所述辐射照度计的输出端连接锁相放大器的输入端,所述锁相放大器的输出端连接计算机的信号输入端,所述电校准辐射计的输出端连接计算机的另一信号输入端。
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