[实用新型]一种截流取样法氦质谱检漏装置有效

专利信息
申请号: 201520073296.X 申请日: 2015-02-02
公开(公告)号: CN204405270U 公开(公告)日: 2015-06-17
发明(设计)人: 张和毅 申请(专利权)人: 上海贤日自动化设备有限公司
主分类号: G01M3/20 分类号: G01M3/20
代理公司: 上海唯源专利代理有限公司 31229 代理人: 汪家瀚
地址: 201612 上海市嘉定*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种截流取样法氦质谱检漏装置,包括用于容置被检产品的真空密封室、用于抽真空密封室的抽真空设备、连接真空密封室与抽真空设备的抽真空管道、以及氦质谱检漏仪,抽真空管道上安装有第一截流阀和第二截流阀,第一截流阀与第二截流阀之间的真空管道形成截流段,氦质谱检漏仪连接截流段。通过在抽真空管道上安装第一截流阀和第二截流阀,使第一截流阀与第二截流阀之间的抽真空管道形成截流段,通过关闭第一截流阀和第二截流阀,将真空密封室内的抽真空气体截流采集在截流段内,取走被检产品,对取样的抽真空气体进行检漏,检漏时被检产品已经脱离检测系统,提高生产效率,实现了生产线上的高速在线检测。
搜索关键词: 一种 截流 取样 法氦质谱 检漏 装置
【主权项】:
一种截流取样法氦质谱检漏装置,其特征在于:包括用于容置被检产品的真空密封室、用于抽真空所述真空密封室的抽真空设备、连接所述真空密封室与所述抽真空设备的抽真空管道、以及氦质谱检漏仪,所述抽真空管道上安装有第一截流阀和第二截流阀,所述第一截流阀与所述第二截流阀之间的真空管道形成截流段,所述氦质谱检漏仪连接所述截流段。
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