[实用新型]用于芯片ATE测试的高精度电压测量电路有效

专利信息
申请号: 201520124595.1 申请日: 2015-03-04
公开(公告)号: CN204514995U 公开(公告)日: 2015-07-29
发明(设计)人: 孙鹏程 申请(专利权)人: 上海顶策科技有限公司
主分类号: G01R19/00 分类号: G01R19/00
代理公司: 上海唯源专利代理有限公司 31229 代理人: 蔡沅
地址: 201112 上海市闵行*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型涉及一种用于芯片ATE测试的高精度电压测量电路,属于电路结构技术领域。采用了结构的用于芯片ATE测试的高精度电压测量电路,其包括基准电压产生模块和误差放大处理模块,待测芯片的输出电压与所述的基准电压产生模块的输出端均连接所述的误差放大处理模块的输入端,所述的误差放大处理模块的输出端连接测试机。从而能够利用基准电压产生模块和误差放大处理模块,放大待测芯片的输出电压与基准电压之间的差值,进而能够利用ATE实现高精度的电压测量,且本实用新型的用于芯片ATE测试的高精度电压测量电路,其结构简单,成本低廉,应用范围也相当广泛。
搜索关键词: 用于 芯片 ate 测试 高精度 电压 测量 电路
【主权项】:
一种用于芯片ATE测试的高精度电压测量电路,其特征在于,包括基准电压产生模块和误差放大处理模块,待测芯片的输出电压与所述的基准电压产生模块的输出端均连接所述的误差放大处理模块的输入端,所述的误差放大处理模块的输出端连接测试机。
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