[实用新型]薄片类介质厚度检测机构及薄片类介质处理装置有效

专利信息
申请号: 201520152520.4 申请日: 2015-03-17
公开(公告)号: CN204508299U 公开(公告)日: 2015-07-29
发明(设计)人: 高涛;郑磊;齐国伟;王权黎;董立波 申请(专利权)人: 山东新北洋信息技术股份有限公司
主分类号: B65H7/12 分类号: B65H7/12;B65H7/06;G07D7/16
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 张海英;范坤坤
地址: 264203 山东省*** 国省代码: 山东;37
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型公开一种薄片类介质厚度检测机构及薄片类介质处理装置,其中薄片类介质厚度检测机构包括:基准辊,设置在被固定的芯轴上且为薄片类介质厚度判定的基准;检测组件,包括检测辊和弹性复压件,所述检测辊设置在所述基准辊的一侧,与所述基准辊接触或间隔设定距离;传感器组件,设置在所述检测辊的一侧,用于检测所述检测辊与所述基准辊之间的距离变化,其中,所述弹性复压件与所述检测辊连接,用于使所述检测辊始终具有向靠近所述基准辊方向运动的趋势。本实用新型的薄片类介质厚度检测机构输出信号的波形稳定,检测精度高。
搜索关键词: 薄片 介质 厚度 检测 机构 处理 装置
【主权项】:
一种薄片类介质厚度检测机构,其特征在于,包括:基准辊,设置在被固定的芯轴上且为薄片类介质厚度判定的基准;检测组件,包括检测辊和弹性复压件,所述检测辊设置在所述基准辊的一侧,与所述基准辊接触或间隔设定距离;传感器组件,设置在所述检测辊的一侧,用于检测所述检测辊与所述基准辊之间的距离变化,其中,所述弹性复压件与所述检测辊连接,用于使所述检测辊始终具有向靠近所述基准辊方向运动的趋势。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于山东新北洋信息技术股份有限公司,未经山东新北洋信息技术股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201520152520.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top