[实用新型]薄片类介质厚度检测机构及薄片类介质处理装置有效
申请号: | 201520152520.4 | 申请日: | 2015-03-17 |
公开(公告)号: | CN204508299U | 公开(公告)日: | 2015-07-29 |
发明(设计)人: | 高涛;郑磊;齐国伟;王权黎;董立波 | 申请(专利权)人: | 山东新北洋信息技术股份有限公司 |
主分类号: | B65H7/12 | 分类号: | B65H7/12;B65H7/06;G07D7/16 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 张海英;范坤坤 |
地址: | 264203 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本实用新型公开一种薄片类介质厚度检测机构及薄片类介质处理装置,其中薄片类介质厚度检测机构包括:基准辊,设置在被固定的芯轴上且为薄片类介质厚度判定的基准;检测组件,包括检测辊和弹性复压件,所述检测辊设置在所述基准辊的一侧,与所述基准辊接触或间隔设定距离;传感器组件,设置在所述检测辊的一侧,用于检测所述检测辊与所述基准辊之间的距离变化,其中,所述弹性复压件与所述检测辊连接,用于使所述检测辊始终具有向靠近所述基准辊方向运动的趋势。本实用新型的薄片类介质厚度检测机构输出信号的波形稳定,检测精度高。 | ||
搜索关键词: | 薄片 介质 厚度 检测 机构 处理 装置 | ||
【主权项】:
一种薄片类介质厚度检测机构,其特征在于,包括:基准辊,设置在被固定的芯轴上且为薄片类介质厚度判定的基准;检测组件,包括检测辊和弹性复压件,所述检测辊设置在所述基准辊的一侧,与所述基准辊接触或间隔设定距离;传感器组件,设置在所述检测辊的一侧,用于检测所述检测辊与所述基准辊之间的距离变化,其中,所述弹性复压件与所述检测辊连接,用于使所述检测辊始终具有向靠近所述基准辊方向运动的趋势。
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