[实用新型]激光测量核孔膜均匀度的装置有效
| 申请号： | 201520158290.2 | 申请日： | 2015-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN204731151U | 公开（公告）日： | 2015-10-28 |
| 发明（设计）人： | 莫丹;袁平;刘杰;曹殿亮;刘建德;张胜霞 | 申请（专利权）人： | 中国科学院近代物理研究所 |
| 主分类号： | G01N21/17 | 分类号： | G01N21/17;G01N21/59 |
| 代理公司： | 兰州振华专利代理有限责任公司 62102 | 代理人： | 张真 |
| 地址： | 730000 甘*** | 国省代码： | 甘肃;62 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种激光测量核孔膜均匀度的装置，其主要特点在于包括有支架，支架包括有水平支架和竖直支架，在竖直支架的上端设有激光器，在竖直支架的中部设有二维平移台，其二维平移台的台面为透明板：在水平支架上设有光探测器；激光器与光探测器在一个中心线上。本实用新型的优点是：采用可调束斑大小激光可以精准探测所需要了解的位置点的信息，可以根据不同的扫描方式，来统计所关心的不同位置的信息。这种扫描的方式，可以通过计算机编程，自动的进行获取，从而迅速得到样品的均匀度信息。 | ||
| 搜索关键词： | 激光 测量 核孔膜 均匀 装置 | ||
【主权项】：
一种激光测量核孔膜均匀度的装置，其特征在于包括有支架，支架包括有水平支架和竖直支架，在竖直支架的上端设有激光器，在竖直支架的中部设有二维平移台，其二维平移台的台面为透明板：在水平支架上设有光探测器；激光器与光探测器在一个中心线上。
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