[实用新型]贵金属精密检测计数装置有效
申请号: | 201520161848.2 | 申请日: | 2015-03-23 |
公开(公告)号: | CN204515821U | 公开(公告)日: | 2015-07-29 |
发明(设计)人: | 孙芸 | 申请(专利权)人: | 上海西渥电器有限公司 |
主分类号: | G06M1/10 | 分类号: | G06M1/10;G06M1/272 |
代理公司: | 上海申蒙商标专利代理有限公司 31214 | 代理人: | 徐小蓉 |
地址: | 201801 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型涉及电子元器件加工机械领域,尤其涉及贵金属精密检测计数装置,其特征在于:所述装置包括振动盘、检测转盘和检测光纤,所述检测转盘上开设有至少一个容置槽,所述容置槽的形状、大小与所述贵金属的形状、大小吻合适配,所述振动盘具有送料轨道,所述送料轨道用于将所述贵金属供送至所述容置槽内,所述检测光纤设置于所述容置槽与所述送料轨道的出口之间,用于检测所述容置槽的容置状态,所述检测转盘的下方设置有至少一个卸料口,所述卸料口用于位于所述容置槽内的贵金属的卸除。本实用新型的优点是:能精密检测贵金属的数量,而且成本低、效率高、全自动、操作方便。 | ||
搜索关键词: | 贵金属 精密 检测 计数 装置 | ||
【主权项】:
一种贵金属精密检测计数装置,用于检测贵金属的数量,其特征在于:所述装置包括振动盘、检测转盘和检测光纤,所述检测转盘上开设有至少一个容置槽,所述容置槽的形状、大小与所述贵金属的形状、大小吻合适配,所述振动盘具有送料轨道,所述送料轨道用于将所述贵金属供送至所述容置槽内,所述检测光纤设置于所述容置槽与所述送料轨道的出口之间,用于检测所述容置槽的容置状态,所述检测转盘的下方设置有至少一个卸料口,所述卸料口用于将位于所述容置槽内的贵金属卸除。
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