[实用新型]贵金属精密检测计数装置有效

专利信息
申请号: 201520161848.2 申请日: 2015-03-23
公开(公告)号: CN204515821U 公开(公告)日: 2015-07-29
发明(设计)人: 孙芸 申请(专利权)人: 上海西渥电器有限公司
主分类号: G06M1/10 分类号: G06M1/10;G06M1/272
代理公司: 上海申蒙商标专利代理有限公司 31214 代理人: 徐小蓉
地址: 201801 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型涉及电子元器件加工机械领域,尤其涉及贵金属精密检测计数装置,其特征在于:所述装置包括振动盘、检测转盘和检测光纤,所述检测转盘上开设有至少一个容置槽,所述容置槽的形状、大小与所述贵金属的形状、大小吻合适配,所述振动盘具有送料轨道,所述送料轨道用于将所述贵金属供送至所述容置槽内,所述检测光纤设置于所述容置槽与所述送料轨道的出口之间,用于检测所述容置槽的容置状态,所述检测转盘的下方设置有至少一个卸料口,所述卸料口用于位于所述容置槽内的贵金属的卸除。本实用新型的优点是:能精密检测贵金属的数量,而且成本低、效率高、全自动、操作方便。
搜索关键词: 贵金属 精密 检测 计数 装置
【主权项】:
一种贵金属精密检测计数装置,用于检测贵金属的数量,其特征在于:所述装置包括振动盘、检测转盘和检测光纤,所述检测转盘上开设有至少一个容置槽,所述容置槽的形状、大小与所述贵金属的形状、大小吻合适配,所述振动盘具有送料轨道,所述送料轨道用于将所述贵金属供送至所述容置槽内,所述检测光纤设置于所述容置槽与所述送料轨道的出口之间,用于检测所述容置槽的容置状态,所述检测转盘的下方设置有至少一个卸料口,所述卸料口用于将位于所述容置槽内的贵金属卸除。
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