[实用新型]一种缺相检测电路有效
| 申请号： | 201520187982.X | 申请日： | 2015-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN204515028U | 公开（公告）日： | 2015-07-29 |
| 发明（设计）人： | 梁宇 | 申请（专利权）人： | 广东易事特电源股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/16 | 分类号： | G01R29/16 |
| 代理公司： | 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 | 代理人： | 刘克宽 |
| 地址： | 523808 广东省东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种缺相检测电路，涉及检测电路技术领域，其用于检测三相电路是否缺相，三相电路包括A相、B相和C相，本实用新型包括三个降压电路、可控硅和光耦，A相、B相和C相分别经三个降压电路后分别接至可控硅的三个极，所述光耦的发光器串接于可控硅的导通回路，可控硅导通，则光耦的发光器发光，光耦的受光器的集电极输出电平信号，该缺相检测电路可及早发现三相电路缺相，降低危害，该电路安全可靠，电路简单，成本低，适用各种设备电源的缺相检测。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 检测 电路 | ||
【主权项】：
一种缺相检测电路，用于检测三相电路是否缺相，三相电路包括A相、B相和C相，其特征在于：包括三个降压电路、可控硅和光耦，A相、B相和C相分别经三个降压电路后分别接至可控硅的三个极，所述光耦的发光器串接于可控硅的导通回路，可控硅导通，则光耦的发光器发光，光耦的受光器的集电极输出电平信号。
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