[实用新型]一种低功耗差分传输芯片的直通化测试装置有效
| 申请号： | 201520215946.X | 申请日： | 2015-04-10 |
| 公开（公告）号： | CN204495966U | 公开（公告）日： | 2015-07-22 |
| 发明（设计）人： | 刘静;曹俊锋;柏光东;王凤驰;李正东 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙) 34124 | 代理人： | 丁瑞瑞 |
| 地址： | 230000 安徽省合*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 一种低功耗差分传输芯片的直通化测试装置，其特征在于：其包括对插件侧接口(1)、对测试系统侧接口(2)、解差分芯片组(3)和时钟电路(4)；所述对插件侧接口(1)和对测试系统侧接口(2)通过并行走线直接一对一连接并双向通讯；所述解差分芯片组(3)分别与对插件侧接口(1)通过差分走线一对一连接并单向通讯、与对测试系统侧接口(2)通过并行走线一对一连接并单向通讯；所述时钟电路(4)与解差分芯片组(3)连接。所述测试装置具有结构简单、使用便利、布线紧凑，且采用成熟的芯片与电子元器件，具有极低的采购成本和良好的移植性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 功耗 传输 芯片 通化 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种低功耗差分传输芯片的直通化测试装置，其特征在于：其包括对插件侧接口(1)、对测试系统侧接口(2)、解差分芯片组(3)和时钟电路(4)；所述对插件侧接口(1)和对测试系统侧接口(2)通过并行走线直接一对一连接并双向通讯；所述解差分芯片组(3)分别与对插件侧接口(1)通过差分走线一对一连接并单向通讯、与对测试系统侧接口(2)通过并行走线一对一连接并单向通讯；所述时钟电路(4)与解差分芯片组(3)连接。
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