[实用新型]高通量组合半导体材料芯片合成设备有效

专利信息
申请号: 201520215990.0 申请日: 2015-04-10
公开(公告)号: CN204608149U 公开(公告)日: 2015-09-02
发明(设计)人: 茆胜;朱煜;张令辉;张耀辉 申请(专利权)人: 宁波华甬新材料科技有限公司
主分类号: C23C14/28 分类号: C23C14/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215123 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种高通量组合半导体材料芯片合成设备,在超高真空腔室中同时配置了脉冲激光和电子束双沉积源,分别利用脉冲激光沉积的非热力学平衡沉积过程,将靶源材料的化学计量比例完整复制到样品薄膜,以及电子束沉积用于沉积高纯金属薄膜和非吸收性材料的优势,适用于包括金属合金、金属氧化物、介电氧化物,以及纳米结构和薄膜等材料的合成制备;同时装载至少10种不同的氧化物、陶瓷或金属靶源材料,提供包括原位加热、后处理退火和多种气氛工艺控制,以及用于样品存贮和传递的惰性气体手套箱;有效避免材料交叉污染,并解决高活性样品的传递与存贮问题,大大提高了高通量组合半导体材料芯片制备的灵活性和可靠性。
搜索关键词: 通量 组合 半导体材料 芯片 合成 设备
【主权项】:
一种高通量组合半导体材料芯片合成设备,包括进样室(5)和以进样室(5)为中心的两条样品传递方向上设有的设备,其特征在于,沿第一样品传递杆(1)的传递方向依次设有第一样品传递杆(1)、进样室(5)和超高真空主沉积腔室(7),沿第二样品传递杆(2)的传递方向依次设有第二样品传递杆(2)、后处理退火与气氛腔(6)、进样室(5)和手套箱(3);超高真空主沉积腔室(7)的顶部设有样品台(8),超高真空主沉积腔室(7)的侧壁上设有PLD伸缩靶台(9)、电子束源(10)和掩膜板装置(11),超高真空主沉积腔室(7)的侧壁还设有与PLD伸缩靶台(9)的激光扫描区域相应的激光入射口(12);PLD伸缩靶台(9)与样品台(8)的距离小于电子束源(10)与样品台(8)的距离;掩膜板装置(11)上装设有掩膜板和掩膜板的传动控制装置;进样室(5)与超高真空主沉积腔室(7)和手套箱(3)之间均设有插板阀(4)。
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