[实用新型]晶振检测仪挡料机构有效
| 申请号： | 201520244711.3 | 申请日： | 2015-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN204528602U | 公开（公告）日： | 2015-08-05 |
| 发明（设计）人： | 李谦平;林峰;杨宗安 | 申请（专利权）人： | 福建省将乐县长兴电子有限公司 |
| 主分类号： | B65G47/74 | 分类号： | B65G47/74 |
| 代理公司： | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人： | 曾捷 |
| 地址： | 353300 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | 本实用新型公开一种晶振检测仪挡料机构，包括倾斜设置的晶体轨道，所述晶体轨道上设置有供单个晶振依次通行的晶振通槽，所述晶体轨道的左侧设置有检测装置，所述晶体轨道上设置有挡料装置，该挡料装置由左挡料机构和右挡料机构组成，所述右挡料机构由右挡料座以及设置在该右挡料座上的第一挡料针和第三挡料针构成，所述左挡料机构由左挡料座以及设置在该左挡料座上的第二挡料针和第四挡料针构成。由于本实用新型在晶体轨道上设置有挡料装置，挡料装置上设置有多个挡料针，在晶振下落途中可以对其进行多次挡料操作，使晶振下落的冲力得到有效缓解，避免因冲力过大不能完成检测的问题发生，避免检测不完全和卡料等情况产生。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 仪挡料 机构 | ||
【主权项】：
一种晶振检测仪挡料机构，包括倾斜设置的晶体轨道（1），所述晶体轨道（1）上设置有供单个晶振依次通行的晶振通槽（2），所述晶体轨道（1）的左侧设置有检测装置（3），其特征在于：所述晶体轨道（1）上设置有挡料装置，该挡料装置由位于所述晶体轨道（1）左侧的左挡料机构和位于所述晶体轨道（1）右侧的右挡料机构组成，所述右挡料机构由右挡料座（4）以及设置在该右挡料座（4）上的第一挡料针（5）和第三挡料针（6）构成，所述第一挡料针（5）和第三挡料针（6）平行设置于所述右挡料座（4）对应晶体轨道（1）的一侧，所述左挡料机构由左挡料座（7）以及设置在该左挡料座（7）上的第二挡料针（8）和第四挡料针（9）构成，所述第二挡料针（8）和第四挡料针（9）平行设置于所述左挡料座（7）对应晶体轨道（1）的一侧，所述检测装置（3）设置于所述晶体轨道（1）上对应所述第四挡料针（9）位置处。
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