[实用新型]一种测试结构有效

专利信息
申请号: 201520257661.2 申请日: 2015-04-24
公开(公告)号: CN204651310U 公开(公告)日: 2015-09-16
发明(设计)人: 牛刚 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: H01L23/544 分类号: H01L23/544
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 余明伟
地址: 100176 北京市大兴区大*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型提供一种测试结构,至少包括:若干测试单元;每个测试单元包括:处于第一水平面的第一金属条和两个第二金属条;第一金属条位于所述第二金属条之间;处于第一水平面上方的第二水平面中的第三金属条和两个第四金属条;第三金属条位于第四金属条之间;第三金属条在第一水平面上的投影相交于第一金属条;第一金属条与两个第四金属条电连接;第三金属条与两个第二金属条电连接;该若干测试单元彼此通过共用第二金属条和第四金属条相互电连接。该测试结构可以在一次测试中对不同金属层及同一金属层中金属结构的工艺状况进行测试,避免测试的繁琐性;同时其寄生电容相比现有测试结构中的寄生电容大大减小,从而提高了器件的性能。
搜索关键词: 一种 测试 结构
【主权项】:
一种测试结构,其特征在于,所述测试结构至少包括:若干测试单元;所述每个测试单元至少包括:第一水平面以及处于第一水平面的第一金属条和两个第二金属条;所述第一金属条位于所述第二金属条之间且所述第一金属条垂直于所述第二金属条;位于所述第一水平面上方的第二水平面;处于所述第二水平面的第三金属条和两个第四金属条;所述第三金属条位于所述第四金属条之间且所述第三金属条垂直于所述第四金属条;所述第三金属条在所述第一水平面上的投影垂直且相交于所述第一金属条;所述第一金属条与所述两个第四金属条电连接;所述第三金属条与所述两个第二金属条电连接;所述若干测试单元彼此之间通过共用所述第二金属条和第四金属条相互电连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中芯国际集成电路制造(北京)有限公司,未经中芯国际集成电路制造(北京)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201520257661.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top