[实用新型]LTTL/LCMOS型中规模时序逻辑芯片测试装置有效
| 申请号： | 201520319440.3 | 申请日： | 2015-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN204666786U | 公开（公告）日： | 2015-09-23 |
| 发明（设计）人： | 钱莹晶;张仁民;张学斌;周妮;戴右芳 | 申请（专利权）人： | 怀化学院 |
| 主分类号： | G01R31/3177 | 分类号： | G01R31/3177 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 418008 *** | 国省代码： | 湖南;43 |
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| 摘要： | 为快速准确的判断验证LTTL/LCMOS型中规模时序逻辑芯片逻辑功能，本实用新型提供一种LTTL/LCMOS型中规模时序逻辑芯片测试装置，包括供电模块、处理器模块、电气接口模块、待测芯片插槽及人机接口模块。所述处理器模块与电气接口模块、人机接口模块连接；所述待测芯片插槽通过电气接口模块与处理器模块连接。该装置通过人机接口模块的键盘子模块接收待测芯片型号后，能迅速准确的验证LTTL/LCMOS型中规模时序逻辑芯片逻辑功能并将测试结果显示在人机接口模块的显示子模块上。实验表明，该装置具有使用方便、操作简单的优点。 | ||
| 搜索关键词： | lttl lcmos 规模 时序 逻辑 芯片 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种LTTL/LCMOS型中规模时序逻辑芯片测试装置，其特征在于，包括供电模块、处理器模块、电气接口模块、待测芯片插槽及人机接口模块；所述供电模块与处理器模块、电气接口模块及人机接口模块连接；所述处理器模块与电气接口模块、人机接口模块连接；所述待测芯片插槽通过电气接口模块与处理器模块连接；该装置通过人机接口模块的输入子模块接收待测芯片型号后，处理器模块从存储在其内部的芯片激励库中查找相应的激励测试向量和供电信息，在为待测芯片配置合理的供电后，通过电气接口模块对待测芯片施加预定规律的激励测试向量，并通过电气接口模块读取待测芯片输出引脚上的响应向量，比较后将测试结果显示在人机接口模块的显示子模块上。
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