[实用新型]利用反向恢复电流测量半导体双向开关载流子寿命的电路有效
| 申请号： | 201520346506.8 | 申请日： | 2015-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN204666777U | 公开（公告）日： | 2015-09-23 |
| 发明（设计）人： | 陈文萍;韦文生;李求泉;徐啸;魏佳莹 | 申请（专利权）人： | 温州大学 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 温州瓯越专利代理有限公司 33211 | 代理人： | 陈加利 |
| 地址： | 325000 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提供一种利用反向恢复电流测量半导体双向开关载流子寿命的电路。包括功率脉冲发生器(M1)、采样脉冲发生器(M1)、第一场效应管(FET1)、三极管(Q1)、第一电阻(R1)、第二电阻(R2)、第三电阻(R3)、积分电容(C)及电压表(J)。功率脉冲发生器的负极与该开关第一端及采样脉冲发生器的正极相连后接地，功率脉冲发生器的正极与该场效应管的源极相连；该场效应管的漏极通过第二电阻与该开关第三端相连，还通过第三电阻与三极管的基极相连，该场效应管的栅极通过第一电阻与该开关第二端相连；三极管的集电极与电压表的正极相连，电压表的负极接地，该集电极还通过积分电容与采样脉冲发生器的负极相连，三极管的发射极与开关第三端相连。本实用新型能够测出双向晶闸管等器件的载流子寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 反向 恢复 电流 测量 半导体 双向 开关 载流子 寿命 电路 | ||
【主权项】：
一种利用反向恢复电流测量半导体双向开关载流子寿命的电路，其与被测半导体双向开关相配合，其特征在于，所述电路包括功率脉冲发生器(M1)、采样脉冲发生器(M2)、第一场效应管(FET1)、三极管(Q1)、第一电阻(R1)、第二电阻(R2)、第三电阻(R3)、积分电容(C)以及电压表(J)；其中，所述功率脉冲发生器(M1)的负极与所述被测半导体双向开关的第一端及所述采样脉冲发生器(M2)的正极相连后接地，所述功率脉冲发生器(M1)的正极与所述第一场效应管(FET1)的源极相连；所述第一场效应管(FET1)的漏极通过所述第二电阻(R2)与所述被测半导体双向开关的第三端(a3)相连，且还通过所述第三电阻(R3)与所述三极管(Q1)的基极相连，所述第一场效应管(FET1)的栅极通过所述第一电阻(R1)与所述被测半导体双向开关的第二端(a2)相连；所述三极管(Q1)的集电极与所述电压表(J)的正极相连，且还通过所述积分电容(C)与所述采样脉冲发生器(M2)的负极相连，所述三极管(Q1)的发射极与所述被测半导体双向开关的第三端(a3)相连。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于温州大学，未经温州大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201520346506.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
