[实用新型]三维堆叠MEMS封装结构有效
申请号: | 201520356956.5 | 申请日: | 2015-05-28 |
公开(公告)号: | CN204714514U | 公开(公告)日: | 2015-10-21 |
发明(设计)人: | 万里兮;肖智轶;钱静娴;翟玲玲;马力;项敏;沈建树 | 申请(专利权)人: | 华天科技(昆山)电子有限公司 |
主分类号: | B81B7/02 | 分类号: | B81B7/02;B81C1/00 |
代理公司: | 昆山四方专利事务所 32212 | 代理人: | 盛建德;段新颖 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种三维堆叠MEMS封装结构,采用一中介层作为连接MEMS芯片与IC芯片的桥梁,该中介层的尺寸大于IC芯片的尺寸或/和MEMS芯片的尺寸;中介层上设置有若干用于将该MEMS封装结构的电性导出的焊球。这样,此三维堆叠MEMS封装结构将不受MEMS芯片和IC芯片尺寸的限制,当IC芯片较大时,可将焊球设于中介层的下表面上,当MEMS芯片较大时,可将焊球设于中介层的上表面上,当IC芯片均较小时,焊球可任意设置在中介层的上表面或下表面上,因此,无论尺寸大小,均可采用此封装结构,从而满足MEMS的集成封装,达到降低生产成本,提高MEMS封装的集成度及封装良率的目的。 | ||
搜索关键词: | 三维 堆叠 mems 封装 结构 | ||
【主权项】:
一种三维堆叠MEMS封装结构,其特征在于,包括MEMS芯片(200)、中介层(300)和IC芯片(100),所述中介层具有上表面(300a)和下表面(300b),所述中介层的下表面中部具有凹槽,所述凹槽周边设有贯通所述上表面和下表面的若干导电通孔(6);所述中介层的下表面与所述MEMS芯片的正面通过密封圈(3)键合密封连接,使所述凹槽与所述MEMS芯片中部的腔体(4)相对围成一密闭空腔,所述MEMS芯片的元件(5)位于所述密闭空腔内;所述IC芯片贴装于所述中介层的上表面,所述IC芯片的电性与所述MEMS芯片的电性通过所述导电通孔进行连接;所述中介层的尺寸大于所述IC芯片的尺寸或/和所述MEMS芯片的尺寸;所述中介层上设置有若干用于将该MEMS封装结构的电性导出的焊球(304)。
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