[实用新型]检测紫外辐射的紫外指数的集成器件、电子设备和校准系统有效

专利信息
申请号: 201520358184.9 申请日: 2015-05-28
公开(公告)号: CN205049238U 公开(公告)日: 2016-02-24
发明(设计)人: G·斯皮内拉;M·萨皮恩扎;G·布鲁诺 申请(专利权)人: 意法半导体股份有限公司
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华
地址: 意大利阿格*** 国省代码: 意大利;IT
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摘要: 实用新型的各个实施例涉及检测紫外辐射的紫外指数的集成器件、电子设备和校准系统。一种用于检测UV指数的集成器件(1)被设置有:光检测器(2),根据检测到的UV辐射,生成检测量(Ipuvd);以及处理级(6),耦合至光检测器(2),并且根据检测量(Ipuvd)在输出处提供UV指数的检测值(UVdet)。处理级(6)基于调节因子(Gtrim)对检测量(Ipuvd)进行处理,以在输出处提供UV指数的检测值(UVdet);并且进一步被设置有:调节级(4),耦合至处理级(6),用于对调节因子(Gtrim)的值进行调节。
搜索关键词: 检测 紫外 辐射 指数 集成 器件 电子设备 校准 系统
【主权项】:
一种集成器件(1),用于检测紫外(UV)辐射的UV指数,所述器件,其特征在于,包括:光检测器(2),被配置为根据检测到的所述UV辐射,生成电检测量;以及处理级(6),耦合至所述光检测器(2),并且被配置为基于所述电检测量,在输出处提供所述UV指数的检测值,其中所述处理级(6)被配置为基于调节因子,对所述检测量进行处理,以在所述输出处提供所述UV指数的所述检测值;并且其中所述器件进一步包括:调节级(4),耦合至所述处理级(6)、并且被配置为对所述调节因子的值进行调节。
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