[实用新型]一种电子元器件加速贮存试验工装有效

专利信息
申请号: 201520433257.6 申请日: 2015-06-23
公开(公告)号: CN204776668U 公开(公告)日: 2015-11-18
发明(设计)人: 邹粟;陈津虎;胡恩来;杨学印;辛克浩 申请(专利权)人: 北京强度环境研究所;中国运载火箭技术研究院
主分类号: B65D71/70 分类号: B65D71/70;G01N17/00
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 王洁
地址: 100076 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型属于加速贮存试验技术领域,具体涉及一种中小型电子元器件加速贮存试验工装。技术方案:为正方形或长方形的平板,平板的边长为200mm~300mm,平板的厚度为10~15mm,平板的材质为玻璃钢;平板上均布多个元器件安装处,元器件安装处为突出于平板表面的圆形、方形、或长圆形的沟或槽结构,待测元器件安装在元器件安装处内;元器件安装处的左上角具有编号。有益效果:本实用新型针对中小型电子元器件外形的共性特点,设计了一类可以承受加速贮存环境应力的试验工装,能够有效解决电子元器件在加速贮存试验的过程中样本编号、绝缘、隔离等问题。
搜索关键词: 一种 电子元器件 加速 贮存 试验 工装
【主权项】:
一种电子元器件加速贮存试验工装,其特征在于:为正方形或长方形的平板(1),平板(1)的边长为200mm~300mm,平板(1)的厚度为10~15mm,平板(1)的材质为玻璃钢;平板(1)上均布多个元器件安装处(2),元器件安装处(2)为凹陷于平板(1)表面的圆形、方形或长圆形的沟或槽结构;元器件安装处(2)的左上角具有编号。
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