[实用新型]一种温度测试电路

摘要

本实用新型公开了一种温度测试电路，包括电阻R1、电阻R2、瞬态电压抑制二极管D1和芯片IC1，所述电阻R1的一端连接电源VCC，电阻R1的另一端连接电阻R2和瞬态电压抑制二极管D1，瞬态电压抑制二极管D1的另一端连接电阻R4、电阻R5、电阻R13和电位器RP1的一个固定端并接地，电阻R2的另一端连接电阻R3、电阻R12和电位器RP1的另一个固定端。本实用新型温度测试电路利用简单且价格低廉的电阻组成非平衡电桥作为温度测试模块，极大的降低制作成本，并且利用瞬态电压抑制二极管的工作特性对电源中的尖峰脉冲进行抑制，减少了电源对测量结果的影响，因此具有结构简单、制作成本低和测量精准的优点。

主权项

一种温度测试电路，包括电阻R1、电阻R2、瞬态电压抑制二极管D1和芯片IC1，其特征在于，所述电阻R1的一端连接电源VCC，电阻R1的另一端连接电阻R2和瞬态电压抑制二极管D1，瞬态电压抑制二极管D1的另一端连接电阻R4、电阻R5、电阻R13和电位器RP1的一个固定端并接地，电阻R2的另一端连接电阻R3、电阻R12和电位器RP1的另一个固定端，电阻R3的另一端连接电阻R11和电阻R5的另一端，电阻R12的另一端连接电阻R13，电阻R4的另一端连接电阻R11的另一端和芯片IC1的引脚1，电位器RP1的滑动端连接电阻R6和芯片IC1的引脚3，芯片IC1的引脚4连接电阻R6的另一端和电阻R7，电阻R7的另一端连接电阻R9、电容C1、二极管D2的阳极、二极管D3的阴极和芯片IC2的引脚3，二极管D2的阴极连接二极管D3的阳极、电容C1的另一端、电阻R8和芯片IC2的引脚1，电阻R8的另一端接地，电阻R9的另一端连接电阻R10、电容C2、电位器RP2的一个固定端和芯片IC2的引脚4，电阻R10的另一端连接电容C2的另一端并接地，电位器RP2的另一个固定端接地，电位器RP2的滑动端连接电压表P，电压表P的另一端接地。