[实用新型]一种XRD测试设备用可控升温装置有效

专利信息
申请号: 201520481704.5 申请日: 2015-07-03
公开(公告)号: CN205209862U 公开(公告)日: 2016-05-04
发明(设计)人: 汤晓萍;胡醇;李杰;杨海;吉堂付;黄立国;谷世亮 申请(专利权)人: 苏州电器科学研究院股份有限公司
主分类号: G01N1/44 分类号: G01N1/44;G01N23/20
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215104 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种XRD测试设备用可控升温装置,由金属桶体、隔热内衬、样品室、热电偶、加热线圈、陶瓷套管、导线、控温仪、粉末样品槽底座、粉末样品槽、块体样品台组成,金属桶体与样品室之间安装一层隔热内衬,加热线圈沿隔热内衬侧壁安装,热电偶粘贴在样品室底部,连接加热线圈的导线通过陶瓷套管引出,其温度通过热电偶和外接的控温仪测量、控制,样品室中可放置与其配套的粉末样品槽底座、粉末样品槽和块体样品台。
搜索关键词: 一种 xrd 测试 备用 可控 升温 装置
【主权项】:
一种XRD测试设备用可控升温装置,由金属桶体(1)、隔热内衬(2)、样品室(3)、热电偶(4)、加热线圈(5)、陶瓷套管(6)、导线(7)、控温仪(8)、粉末样品槽底座(9)、粉末样品槽(10)、块体样品台(11)组成,金属桶体(1)与样品室(3)之间安装一层隔热内衬(2),加热线圈(5)沿隔热内衬(2)侧壁安装,热电偶(4)粘贴在样品室(3)底部,连接加热线圈(5)的导线(7)通过陶瓷套管(6)引出,其温度通过热电偶(4)和外接的控温仪(8)测量、控制,样品室(3)中可放置与其配套的粉末样品槽底座(9)、粉末样品槽(10)和块体样品台(11)。
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