[实用新型]阵列角反射器指向精度测量系统有效
| 申请号： | 201520498858.5 | 申请日： | 2015-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN205192727U | 公开（公告）日： | 2016-04-27 |
| 发明（设计）人： | 段战军 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 张倩 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及阵列角反射器指向精度测量系统，包括光源、星点板、平行光管、半透半反平面镜、缩束镜头、滤光片、CCD相机以及PC机，光源经过星点板、平行光管发出平行光，平行光垂直入射半透半反平面镜，待测阵列角反射器位于半透半反平面镜的反射光路上，半透半反平面镜的透射光路上依次摆放有缩束镜头、滤光片以及CCD组件，CCD组件与PC机连接。本实用新型解决了现有的阵列角反射器的角锥棱镜指向精度测量方法存在测量过程复杂、测量效率低的技术问题，本实用新型可对大口径阵列角反射器子角锥指向精度进行直接测量，不需要进行多次数据拼接和判读，减小了多次测量带来的误差。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 反射 指向 精度 测量 系统 | ||
【主权项】：
阵列角反射器指向精度测量系统，其特征在于：包括光源、星点板、平行光管、半透半反平面镜、缩束镜头、滤光片、CCD相机以及PC机，所述光源经过星点板、平行光管发出平行光，平行光垂直入射半透半反平面镜，待测阵列角反射器位于半透半反平面镜的反射光路上，半透半反平面镜的透射光路上依次摆放有缩束镜头、滤光片以及CCD组件，所述CCD组件与PC机连接。
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