[实用新型]通道内颗粒物的在位式检测装置有效
| 申请号： | 201520499900.5 | 申请日： | 2015-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN204740188U | 公开（公告）日： | 2015-11-04 |
| 发明（设计）人： | 王大伟;于志伟;杨凤琴;付聪 | 申请（专利权）人： | 杭州泽天科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/06 | 分类号： | G01N15/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310052 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种通道内颗粒物的在位式检测装置，所述在位式检测装置包括光源、检测器及分析单元；进一步包括：安装件；探头，所述探头固定在所述安装件上，所述探头内具有光学通道和气体通道；所述光源发出的测量光依次穿过所述安装件、光学通道后从所述探头出射；所述气体通道与所述光学通道在测量光束处交汇。本实用新型具有检测精度高、结构简单、低成本等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 通道 颗粒 在位 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种通道内颗粒物的在位式检测装置，所述在位式检测装置包括光源、检测器及分析单元；其特征在于：所述在位式检测装置进一步包括：安装件；探头，所述探头固定在所述安装件上，所述探头内具有光学通道和气体通道；所述光源发出的测量光依次穿过所述安装件、光学通道后从所述探头出射；所述气体通道与所述光学通道在测量光束处交汇。
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