[实用新型]探测单元和具有该探测单元的LED芯片测试设备

摘要

本实用新型提供了一种探测单元和一种具有该探测单元的LED芯片测试设备，所述探测单元配置成电接触LED芯片，LED芯片在定位于座块上时，其下端具有接触部件，座块限定有穿过其的接触孔。探测单元包括探针卡，探针卡可升高地设置于座块之下，并具有针孔，针孔在对应于接触孔位置连接至外部空气吸入部件。探针设置于针孔中以随着探针卡升高时穿过接触孔而接触LED芯片的接触部件。空间形成构件设置于针孔的上部周围，空间形成构件限定出吸附空间以用于在探针接触LED芯片时围绕座块和探针卡之间的接触孔和针孔。因此，在根据本实用新型的探测单元中，在探针接触在所述LED芯片下部的接触部件时，可更牢固地保持其中所述LED芯片定位于所述座块上的状态。

主权项

一种探测单元，所述探测单元配置成电接触LED芯片，所述LED芯片在定位于座块上时其下部具有接触部件，所述座块限定有穿过其的接触孔，其特征在于所述探测单元包括：探针卡，所述探针卡可升高地设置于所述座块之下，所述探针卡具有针孔，所述针孔连通所述接触孔并连接至外部真空发生器；探针，所述探针设置于所述针孔中以随着所述探针卡升高时穿过所述接触孔而接触所述LED芯片的所述接触部件；和空间形成构件，所述空间形成构件设置于所述探针卡上和所述针孔周围，所述空间形成构件限定出形成于所述座块和所述探针卡之间的吸附空间，用于连通所述接触孔和所述针孔以在所述探针接触所述LED芯片时利用所述外部真空发生器将所述LED芯片吸附至所述座块。