[实用新型]一种芯片测试平台有效
| 申请号： | 201520615529.4 | 申请日： | 2015-08-14 |
| 公开（公告）号： | CN204832267U | 公开（公告）日： | 2015-12-02 |
| 发明（设计）人： | 孟顺祥;黄苏芳;门长有 | 申请（专利权）人： | 万高（杭州）科技有限公司;国网智能电网研究院;国家电网公司;国网山东省电力公司电力科学研究院 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/26 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 310053 浙江省杭州市滨*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本实用新型实施例公开了一种芯片测试平台，包括：控制被测芯片进行相应测试的主控制单元；与主控制单元连接，产生测试被测芯片所需的输入信号的副控制单元；与主控制单元及副控制单元可拆卸连接，物理连接被测芯片和芯片测试平台的socket组件；与主控制单元连接，启动芯片测试的启动按键；与主控制单元连接，显示测试过程及结果的LCD显示器。主控制单元控制测试平台上的其他部分工作，完成主要的测试项测试；可根据芯片型号或封装更换相应的socket组件。该芯片测试平台，能够自动测试不同型号的芯片，筛选判断出符合要求的芯片，提高了测试的准确性、可靠性和灵活性，同一平台可以测试不同型号的芯片，降低了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 测试 平台 | ||
【主权项】：
一种芯片测试平台，用于测试电能计量芯片及SoC芯片，其特征在于，包括：控制被测芯片进行相应测试的主控制单元；与所述主控制单元连接，产生测试所述被测芯片所需的输入信号的副控制单元；与所述主控制单元及副控制单元可拆卸连接，物理连接所述被测芯片和所述芯片测试平台的socket组件；与所述主控制单元连接，启动芯片测试的启动按键；与所述主控制单元连接，显示测试过程及结果的LCD显示器。
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