[实用新型]发光式摄影测量光学标志有效

专利信息
申请号: 201520620822.X 申请日: 2015-08-18
公开(公告)号: CN204902839U 公开(公告)日: 2015-12-23
发明(设计)人: 郑郧 申请(专利权)人: 郑郧
主分类号: G01C15/02 分类号: G01C15/02
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 范晴;丁浩秋
地址: 200000 上海市长*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种发光式摄影测量光学标志,包括用于吸附的衬底,其特征在于,所述衬底上还设置有发光体,所述发光体为规则图形。无论环境光是强还是弱都不会影响到摄影测量的结果,可以满足各种不同光照环境下摄影测量的要求。可以有效地消除因边缘效应带来的测试误差,提高测试的准确性。
搜索关键词: 发光 摄影 测量 光学 标志
【主权项】:
 一种发光式摄影测量光学标志,包括用于吸附的衬底,其特征在于,所述衬底上还设置有发光体,所述发光体为规则图形。
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