[实用新型]发光式摄影测量光学标志有效
申请号: | 201520620822.X | 申请日: | 2015-08-18 |
公开(公告)号: | CN204902839U | 公开(公告)日: | 2015-12-23 |
发明(设计)人: | 郑郧 | 申请(专利权)人: | 郑郧 |
主分类号: | G01C15/02 | 分类号: | G01C15/02 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 范晴;丁浩秋 |
地址: | 200000 上海市长*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种发光式摄影测量光学标志,包括用于吸附的衬底,其特征在于,所述衬底上还设置有发光体,所述发光体为规则图形。无论环境光是强还是弱都不会影响到摄影测量的结果,可以满足各种不同光照环境下摄影测量的要求。可以有效地消除因边缘效应带来的测试误差,提高测试的准确性。 | ||
搜索关键词: | 发光 摄影 测量 光学 标志 | ||
【主权项】:
一种发光式摄影测量光学标志,包括用于吸附的衬底,其特征在于,所述衬底上还设置有发光体,所述发光体为规则图形。
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