[实用新型]具有单层多晶的NVDRAM有效
申请号: | 201520649945.6 | 申请日: | 2015-08-26 |
公开(公告)号: | CN204884570U | 公开(公告)日: | 2015-12-16 |
发明(设计)人: | 方钢锋 | 申请(专利权)人: | 苏州锋驰微电子有限公司 |
主分类号: | G11C11/4063 | 分类号: | G11C11/4063 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人: | 曹祖良;韩凤 |
地址: | 215634 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本实用新型提供了一种具有单层多晶的NVDRAM,其每个基本存储单元包括第一MOS晶体管、第二MOS晶体管、第一MOS电容和第二MOS电容;第一MOS晶体管浮栅接字线,漏端接位线,衬底是N阱;第二MOS晶体管浮栅接第一MOS电容的浮栅,第二MOS晶体管漏端接编程位线Pbit line,衬底是N阱;第一MOS电容漏端接编程字线Pword line,衬底是P阱;第二MOS电容的浮栅接电容线Cap line,衬底是N阱;第一MOS晶体管源端、第二MOS晶体管的源端和第二MOS电容的漏端相连;所述第一MOS晶体管为PMOS管或NMOS管,第二MOS晶体管为PMOS管,第一MOS电容为NMOS电容或PMOS电容,第二MOS电容为PMOS电容。本实用新型的优点是:与single poly逻辑工艺兼容,可以兼具DRAM 快速随机读取数据和NVM RAM的掉电仍保存数据的功能,既降低成本又有新功能的应用。 | ||
搜索关键词: | 具有 单层 多晶 nvdram | ||
【主权项】:
具有单层多晶的NVDRAM,其特征是:NVDRAM每个基本存储单元包括第一MOS晶体管、第二MOS晶体管、第一MOS电容和第二MOS电容;第一MOS晶体管浮栅接字线word line,漏端接位线bit line,衬底是N阱;第二MOS晶体管浮栅接第一MOS电容的浮栅,第二MOS晶体管漏端接编程位线Pbit line,衬底是N阱;第一MOS电容漏端接编程字线Pword line,衬底是P阱;第二MOS电容的浮栅接电容线Cap line,衬底是N阱;第一MOS晶体管源端、第二MOS晶体管的源端和第二MOS电容的漏端相连;所述第一MOS晶体管为PMOS管或NMOS管,第二MOS晶体管为PMOS管,第一MOS电容为NMOS电容或PMOS电容,第二MOS电容为PMOS电容。
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