[实用新型]具有单层多晶的NVDRAM有效

专利信息
申请号: 201520649945.6 申请日: 2015-08-26
公开(公告)号: CN204884570U 公开(公告)日: 2015-12-16
发明(设计)人: 方钢锋 申请(专利权)人: 苏州锋驰微电子有限公司
主分类号: G11C11/4063 分类号: G11C11/4063
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人: 曹祖良;韩凤
地址: 215634 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型提供了一种具有单层多晶的NVDRAM,其每个基本存储单元包括第一MOS晶体管、第二MOS晶体管、第一MOS电容和第二MOS电容;第一MOS晶体管浮栅接字线,漏端接位线,衬底是N阱;第二MOS晶体管浮栅接第一MOS电容的浮栅,第二MOS晶体管漏端接编程位线Pbit line,衬底是N阱;第一MOS电容漏端接编程字线Pword line,衬底是P阱;第二MOS电容的浮栅接电容线Cap line,衬底是N阱;第一MOS晶体管源端、第二MOS晶体管的源端和第二MOS电容的漏端相连;所述第一MOS晶体管为PMOS管或NMOS管,第二MOS晶体管为PMOS管,第一MOS电容为NMOS电容或PMOS电容,第二MOS电容为PMOS电容。本实用新型的优点是:与single poly逻辑工艺兼容,可以兼具DRAM 快速随机读取数据和NVM RAM的掉电仍保存数据的功能,既降低成本又有新功能的应用。
搜索关键词: 具有 单层 多晶 nvdram
【主权项】:
具有单层多晶的NVDRAM,其特征是:NVDRAM每个基本存储单元包括第一MOS晶体管、第二MOS晶体管、第一MOS电容和第二MOS电容;第一MOS晶体管浮栅接字线word line,漏端接位线bit line,衬底是N阱;第二MOS晶体管浮栅接第一MOS电容的浮栅,第二MOS晶体管漏端接编程位线Pbit line,衬底是N阱;第一MOS电容漏端接编程字线Pword line,衬底是P阱;第二MOS电容的浮栅接电容线Cap line,衬底是N阱;第一MOS晶体管源端、第二MOS晶体管的源端和第二MOS电容的漏端相连;所述第一MOS晶体管为PMOS管或NMOS管,第二MOS晶体管为PMOS管,第一MOS电容为NMOS电容或PMOS电容,第二MOS电容为PMOS电容。
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