[实用新型]光路折返装置及薄膜应力测试仪有效

专利信息
申请号: 201520704602.5 申请日: 2015-09-11
公开(公告)号: CN205157088U 公开(公告)日: 2016-04-13
发明(设计)人: 张小波;赵升升;高为民;梁凯 申请(专利权)人: 深圳市速普仪器有限公司
主分类号: G01L1/24 分类号: G01L1/24
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 吴平
地址: 518000 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型涉及一种光路折返装置,包括箱体、光入射窗、光学组件及光出射窗,光入射窗设于所述箱体上,光入射窗用于透过薄膜反射的入射光束;光学组件设于所述箱体内,光学组件用于对透过光入射窗的光束进行多次反射;光出射窗设于箱体上,光出射窗用于透过经过所述光学组件多次反射的出射光束。如此,通过设置该光路折返装置,使经过薄膜反射的光束的光程增加,且不用增加薄膜应力测试仪的长度,使其结构更加紧凑,降低了制造成本,且便于运输。还提供一种薄膜应力测试仪。
搜索关键词: 折返 装置 薄膜 应力 测试仪
【主权项】:
一种光路折返装置,其特征在于,包括:箱体;光入射窗,设于所述箱体上,所述光入射窗用于透过薄膜反射的入射光束;光学组件,设于所述箱体内,所述光学组件用于对透过所述光入射窗的光束进行多次反射;光出射窗,设于所述箱体上,所述光出射窗用于透过经过所述光学组件多次反射的出射光束。
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