[实用新型]一种用于校准模拟集成电路的装置有效
| 申请号： | 201520705785.2 | 申请日： | 2015-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN204904843U | 公开（公告）日： | 2015-12-23 |
| 发明（设计）人： | 陈晓龙;林建辉;沈煜 | 申请（专利权）人： | 英特格灵芯片（天津）有限公司 |
| 主分类号： | G11C17/18 | 分类号： | G11C17/18 |
| 代理公司： | 北京亿腾知识产权代理事务所 11309 | 代理人： | 陈霁 |
| 地址： | 300457 天津市塘沽区信环*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种用于校准模拟集成电路的装置。其装置包括：熔断控制单元接收用于校准模拟集成电路的第一信息，在逻辑控制单元的烧写使能信号的控制下，输出熔断信号；存储单元阵列根据熔断信号，存储第二信息，通过检测节点输出第二信息；存储信息检测单元根据逻辑控制单元的检测使能控制信号，通过检测节点读取存储的第二信息；逻辑控制单元用于向熔断控制单元输出烧写使能信号，及向存储信息检测单元输出检测使能控制信号，并判断第二信息和第一信息是否一致，确定是否烧写成功；在模拟集成电路工作期间，输出存储的第二信息。本实用新型通过设置模拟集成电路中存储单元阵列的值来校准其性能，进而减小工艺偏差对电路性能产生的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 校准 模拟 集成电路 装置 | ||
【主权项】：
一种用于校准模拟集成电路的装置，其特征在于，包括：存储单元阵列、熔断控制单元、存储信息检测单元和逻辑控制单元；其中，所述熔断控制单元接收用于校准模拟集成电路的第一信息，并且在所述逻辑控制单元的烧写使能信号的控制下，输出熔断信号；所述存储单元阵列根据所述熔断信号，存储第二信息，并且通过检测节点输出存储的所述第二信息；所述存储信息检测单元根据所述逻辑控制单元的检测使能控制信号，通过检测节点读取存储的所述第二信息；所述逻辑控制单元用于向所述熔断控制单元输出烧写使能信号，以及向所述存储信息检测单元输出检测使能控制信号，并判断所述第二信息和所述第一信息是否一致，确定是否就所述第一信息重新发出所述烧写使能信号；在模拟集成电路工作期间，则输出存储的所述第二信息。
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